一、 儀器特點(diǎn)
1、 中英文操作界面。
2、 大屏幕LCD顯示（320*240）。
3、 高壓型，測(cè)試項(xiàng)目齊全及任意選定。
4、 提供統(tǒng)計(jì)與列印功能，提供不良品統(tǒng)計(jì)分析。
5、 具備檔案存儲(chǔ)與管理功能。
6、 具備密碼管理功能。
1、 具備以下測(cè)試項(xiàng)目：①短斷路
②電容
③導(dǎo)通阻抗
④電阻
⑤二極體
⑥電感
⑦絕緣
⑧耐壓，漏電流
⑨瞬間短斷路
2、 具備以下測(cè)試方式：①雙邊回路測(cè)試
②循環(huán)測(cè)試
3、 儀器的參數(shù)：
◆ 測(cè)試點(diǎn)數(shù)：64～128（PIN）
◆ 測(cè)試電壓：DC50-1500V AC50-1000V
◆ 導(dǎo)通阻抗：0.001～50Ω(精確值0.0001Ω)
◆ 絕緣阻抗：0.1MΩ～1500MΩ
◆ 漏電流：0.01～10mA
三、操作步驟
1． 開(kāi)電源，自檢OK。
2． 按“Mode”，按“項(xiàng)目”對(duì)應(yīng)按鍵，依實(shí)際測(cè)試要求畫(huà)鉤。
3． 按“Cond”，依實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定“上限值”，“瞬間測(cè)試”。
4． 按“Hipot”，依實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定“測(cè)試電壓”，“測(cè)試規(guī)格”，按“高壓模式”對(duì)應(yīng)鍵，設(shè)定“高壓測(cè)
試模式”為2。
5． 按Setup進(jìn)入測(cè)試環(huán)境設(shè)定。
6． 按Learn讀取標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物數(shù)據(jù)。
7． 按“TEST”開(kāi)始測(cè)試。
按Mode鍵（如下圖）：
第一項(xiàng) 《自動(dòng)啟動(dòng)測(cè)試》：（開(kāi)或關(guān)）。“開(kāi)”表示當(dāng)?shù)谝粋(gè)測(cè)試物測(cè)試完成，第二個(gè)待測(cè)物插入時(shí)儀器會(huì)
自動(dòng)起動(dòng)測(cè)試，當(dāng)設(shè)為“關(guān)”時(shí)，測(cè)下一個(gè)待測(cè)物時(shí)則需要按TEST鍵才能測(cè)試。
第二項(xiàng) 《啟動(dòng)延遲時(shí)間》：當(dāng)?shù)谝豁?xiàng)選為自動(dòng)時(shí)才起作用，表示待測(cè)物插入時(shí)需要停留多長(zhǎng)時(shí)間才開(kāi)始測(cè)試。
第三項(xiàng) 《測(cè)試錯(cuò)誤中斷點(diǎn)》：有三項(xiàng)選擇，A全部測(cè)完（表示測(cè)試一直執(zhí)行完成），B短路斷路（表示當(dāng)測(cè)
試中出現(xiàn)短路或斷路測(cè)停止測(cè)試，C低壓測(cè)試
第四項(xiàng) 《連續(xù)測(cè)試》：（開(kāi)或關(guān)）。設(shè)定為“開(kāi)”時(shí)第五項(xiàng)、第六項(xiàng)才起作用；設(shè)定為“關(guān)”時(shí)第五項(xiàng)、第六
項(xiàng)不起作用。表示待測(cè)物是否往返測(cè)試。
按項(xiàng)目對(duì)應(yīng)鍵（屏幕右邊第六個(gè)按鍵）進(jìn)入測(cè)試項(xiàng)目開(kāi)關(guān)，根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求畫(huà)鉤
1．根據(jù)實(shí)際客戶(hù)要求設(shè)置好，其中持繼時(shí)間為測(cè)試每個(gè)點(diǎn)時(shí)，高壓停留時(shí)間。
2．爬升時(shí)間：測(cè)試電壓為50V，爬升電壓從10V起始步進(jìn)行為每步5V，即爬升時(shí)間設(shè)為1秒，在開(kāi)始高
壓測(cè)試時(shí)在1秒內(nèi)完成從10V即10V-15V-20V-30V-40V50V，“爬升測(cè)試“此項(xiàng)時(shí)間不宜設(shè)太長(zhǎng)，以免造成
測(cè)試物電化擊穿。
按高壓模式對(duì)應(yīng)鍵（即屏幕右邊第六個(gè)按鍵），如下圖：
第一項(xiàng)：《高壓測(cè)試模式》后面有詳細(xì)說(shuō)明。
第二項(xiàng)：《絕緣測(cè)試速度》有兩個(gè)選擇“快速”或“慢速”。一般選擇“快速”（精度±5%）；除非對(duì)絕緣測(cè)試值
要求相當(dāng)高才選項(xiàng)擇“慢速”（精度±1%）。
第三項(xiàng)：《加測(cè)所有對(duì)地》后面有詳細(xì)說(shuō)明。
第四項(xiàng)：《地點(diǎn)位》。（與第三項(xiàng)相關(guān)）
第五項(xiàng)：《測(cè)試空點(diǎn)》有兩個(gè)選擇：“開(kāi)”或“關(guān)”。“開(kāi)”表示有網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)位和沒(méi)有網(wǎng)絡(luò)的點(diǎn)位一起測(cè)試。“關(guān)”表
示只測(cè)有網(wǎng)絡(luò)的點(diǎn)位，不測(cè)空點(diǎn)。
第六項(xiàng)：PORT A最終點(diǎn)：表示所要測(cè)試到的最高點(diǎn)位。不在設(shè)置內(nèi)的點(diǎn)數(shù)不作測(cè)試。64表示測(cè)試點(diǎn)位1-64。
按“Cond”鍵進(jìn)入導(dǎo)通設(shè)定。如下圖：
根據(jù)要求設(shè)置。
按“Setup”鍵進(jìn)入測(cè)試環(huán)境設(shè)定，選擇第二項(xiàng)，再確定。如下圖：
根據(jù)實(shí)際情況設(shè)置。
按“Learn”鍵讀取標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物。（一定要標(biāo)準(zhǔn)正確的樣板）。
按“TEST”鍵，儀器開(kāi)始測(cè)試。注意第一次測(cè)試時(shí)一定是測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)物，如果出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)物測(cè)試不正確，分析
原因，看是不是導(dǎo)通、絕緣、耐壓哪一個(gè)通不過(guò)，表明設(shè)置參數(shù)不正確或其它原因造成。對(duì)錯(cuò)誤的項(xiàng)目重新
設(shè)定好參數(shù)。再進(jìn)行測(cè)試。直到測(cè)試正確為止。
以上是基本操作測(cè)試設(shè)定。
四、 測(cè)試模式說(shuō)明：
1. 模式一：奇對(duì)偶：(以8回路為例，以下類(lèi)同)
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指的是奇數(shù)PIN(1、3、5等)線材對(duì)偶數(shù)PIN(2、4、6等)線材之間做絕緣
測(cè)試，其優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試速度快，缺點(diǎn)是奇數(shù)PIN對(duì)奇數(shù)PIN之間沒(méi)有做絕緣測(cè)
試，一般情況下不採(cǎi)用此種模式。
2. 模式二：所有對(duì)地(如選擇A8點(diǎn)為地)（8687選擇對(duì)地打開(kāi)時(shí)）
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指的是非地線對(duì)指定的地線之間做絕緣測(cè)試，其優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試速度快，缺點(diǎn)是
非地線與非地線之間沒(méi)有絕緣測(cè)試，一般情況下不採(cǎi)用此種模式。
3. 模式三：二分快速（8687模式2）
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其測(cè)試方法為每次測(cè)試都把線材分成兩組分別加正負(fù)電壓來(lái)做絕緣測(cè)試，它
測(cè)次數(shù)與設(shè)定的測(cè)試點(diǎn)數(shù)有關(guān)，如右圖，設(shè)定為2點(diǎn)只做1次測(cè)試，設(shè)定4
點(diǎn)時(shí)測(cè)試2次。
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4. 模式四：一對(duì)其它（8687模式三）
測(cè)試方法是線材的一個(gè)點(diǎn)對(duì)其它全部的點(diǎn)做絕緣測(cè)試，線材的每一個(gè)點(diǎn)都會(huì)一
一做這樣的測(cè)試，其優(yōu)點(diǎn)是儀器能查出第一點(diǎn)的絕緣及解壓值且可以全部顯示，
精準(zhǔn)度較高，缺點(diǎn)是測(cè)試速度較慢，操作時(shí)建議把模式三及此模式同時(shí)打開(kāi)。
五、 測(cè)試過(guò)程中常見(jiàn)問(wèn)題一：
1. 斷路：
原因：A.治具 B.線材 C.儀器
2. 導(dǎo)通不良：
原因：
A. 治具接觸電阻大
B. 治具與線材的接觸電阻
C. 儀器內(nèi)阻(歸零解決)
3. 絕緣不良：
原因：
A. 治具較髒，濕度大
B. 線材材料與制作工藝問(wèn)題
C. 儀器Relay板較髒，可作空測(cè)或清潔工作
1. 導(dǎo)通不良： X COND NET001(A01)*B01 HILIMT
X COND NET001(A01)*3.5Ω
2. 開(kāi)路，短路： OPEN A01：B01
SHORT A01→A04
3. 電容不良： X CIN C33→C34(1.00N)HILIMIT
X CIN C33→C34(1.00N)2.00μF
4. 電阻不良： X R1 A01→A02(1.0Ω)HILIMIT
X R1 A01→A02(1.0Ω)10.5Ω
5. 二極管不良： D0.8 C49→C50(1.80V)7.5V
D1.7 C49→C50(1.70V)2.9V
6. 絕緣不良： X INSUL(MOED3)=ARCING
X INSUL NET003(A09)=1.9MΩ
7. 瞬間短斷路不良： OPEN A01：A02(INTERM)
SHORT C15→C17(INTERM)
8. 誤配： M．W．B36*B38
注：此項(xiàng)不可分辯誤配端點(diǎn)，即此顯示不表示在B36、B38點(diǎn)誤配。
作
七、外接測(cè)試治具注意事項(xiàng)
1、外接治具使用久了之后，在接觸時(shí)的導(dǎo)通量會(huì)不穩(wěn)定，對(duì)于低導(dǎo)通阻抗規(guī)格測(cè)試時(shí)會(huì)造成誤測(cè)現(xiàn)象。因此
在測(cè)同一條好的線材多次時(shí)，偶爾出現(xiàn)導(dǎo)通不良或瞬間短斷路則需要更換治具。
2、治具及轉(zhuǎn)接頭隨時(shí)保持清潔。機(jī)器使用久了以后，治具本身會(huì)沾染上一些灰塵，遇到下雨天或濕度高時(shí)，
會(huì)產(chǎn)生絕緣不良的現(xiàn)象影響絕緣測(cè)試或誤判。
八、儀器使用注意事項(xiàng)
1. 轉(zhuǎn)接線愈短愈好，其影響導(dǎo)通、單邊靈敏度、絕緣度
2. 轉(zhuǎn)接頭要經(jīng)常更換，其影響導(dǎo)通、瞬斷
3. 治具及轉(zhuǎn)接頭隨時(shí)保持清潔，影響絕緣
九、儀器的平時(shí)維護(hù)與保養(yǎng)
1、儀器工作確保其散熱良好，不能在其背部放置東西而導(dǎo)致電源散熱不良，縮短儀器壽命。
2、儀器治具插撥要小心，治具不可強(qiáng)硬插撥，否則易損壞。
3、請(qǐng)不要隨意拆卸儀器。如果出現(xiàn)故障，請(qǐng)立即與本公司聯(lián)系。
4、建議在您不使用儀器時(shí)，請(qǐng)用包裝袋或布蓋好，避免儀器落入較多的灰塵，以及由于不經(jīng)意導(dǎo)致的屏幕劃傷。
5、工作環(huán)境不宜在濕度過(guò)大的地方，注意防濕。
6、儀器長(zhǎng)期不使用，請(qǐng)撥掉電源、并用包裝箱封好，放置通風(fēng)處。
