線材測(cè)試儀的測(cè)試過(guò)程中常見問(wèn)題及不良原因分析
測(cè)試過(guò)程中常見問(wèn)題一：
1. 斷路：
原因：A.治具 B.線材 C.儀器
2. 導(dǎo)通不良：
原因：
A. 治具接觸電阻大
B. 治具與線材的接觸電阻
C. 儀器內(nèi)阻(歸零解決)
3. 絕緣不良：
原因：
A. 治具較髒，濕度大
B. 線材材料與制作工藝問(wèn)題
C. 儀器Relay板較髒，可作空測(cè)或清潔工作
六、 CT-8687不良原因分析
1. 導(dǎo)通不良： X COND NET001(A01)*B01 HILIMT
X COND NET001(A01)*3.5Ω
2. 開路，短路： OPEN A01：B01
SHORT A01→A04
3. 電容不良： X CIN C33→C34(1.00N)HILIMIT
X CIN C33→C34(1.00N)2.00μF
4. 電阻不良： X R1 A01→A02(1.0Ω)HILIMIT
X R1 A01→A02(1.0Ω)10.5Ω
5. 二極管不良： D0.8 C49→C50(1.80V)7.5V
D1.7 C49→C50(1.70V)2.9V
6. 絕緣不良： X INSUL(MOED3)=ARCING
X INSUL NET003(A09)=1.9MΩ
7. 瞬間短斷路不良： OPEN A01：A02(INTERM)
SHORT C15→C17(INTERM)
8. 誤配： M．W．B36*B38
注：此項(xiàng)不可分辯誤配端點(diǎn)，即此顯示不表示在B36、B38點(diǎn)誤配。
作
